Epsilon4臺式X射線熒光光譜儀介紹：  
由于較低的基礎設施要求，可以將Epsilon4放到生產過程中靠近生產線的任意位置。其高性能使大多數應用能夠在環境條件下運行，從而降低氦氣或真空維護的成本。  
Epsilon4任意位置  
能量色散式X-射線熒光光譜儀可分析從碳(C)到镅(Am)的元素，涵蓋從百萬分之一以下到100wt%的濃度。  
將Omnian用于無標分析，當需要快速分析鑒定時，則使用FingerPrint來進行材料測試，或者使用Stratos來對涂層、表面層和多層結構進行快速、簡單和非破壞性的分析。還可以使用支持與FDA21CFR第11部分等法規合規的增強的數據安全性，或者使用Oil-Trace量化生物燃油混合燃料到新潤滑油和使用過的潤滑油。  
支持各類樣品  
Epsilon4可處理多種樣本類型，包括固體、壓片和疏松粉末、液體和濾膜。在重量從幾毫克到幾千克的樣品上，對從碳(C)氟到镅(Am)的元素進行非破壞性的定量分析，涵蓋從100%到百萬分之一以下的濃度范圍。  
Epsilon4是穩健、可靠的傳統系統替代方案，已在許多行業和應用領域中得到廣泛應用，甚至在輕元素分析重要的環境中，包括：水泥生產、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、RoHS篩選及定量、石油和石化、聚合物及相關行業、玻璃生產、法醫學、  
制藥、保健產品、環保、食品和化妝品。  

Epsilon4臺式X射線熒光光譜儀特點：  
靈活的配置  
Epsilon4是高度靈活的分析工具，可在10瓦版本中用于從研發到過程控制等各個領域的元素分析(F-Am)。要實現更高的樣品處理量或擴展的輕元素功能，并且處于更加具有挑戰性的環境，可以使用15瓦版本，甚至可以對碳、氮和氧進行分析。  
新發展  
Epsilon4儀器將射線探測技術與分析軟件結合到了一起。15瓦X射線管與大電流(3mA)、硅漂移探測器SDD30以及緊湊的光路設計相結合，提供了甚至超過50瓦功率EDXRF系統以及臺式WDXRF系統的分析性能-同時還額外提高了能源利用效率。  
迅速、敏感  
利用可生成更高強度的硅漂移探測器技術實現迅速測量。  
探測器電路提供的線性計數率可超過1,500,000cps（在50%的死時間下），和計數率無關的分辨率通常高于135eV，可更好地分離光譜中的分析譜線。這使得Epsilon4光譜儀能夠以全功率運行，因此與傳統的EDXRF臺式儀器相比，實現了更高的樣品通量。  
降低氦氣消耗量  
Epsilon4的高性能使得許多應用可以在空氣環境中運行，無需較長的進樣時間和費用來維護氦氣或真空系統。在空氣中測量時，鈉、鎂和鋁的低能量X射線光子對氣壓和溫度變化很敏感。內置溫度和氣壓傳感器可補償這些大氣變化，確保在各種氣候條件下結果不受影響。